Выпуск |
Раздел |
Название |
Файл |
Том 78, № 3 (2023) |
ОРИГИНАЛЬНЫЕ СТАТЬИ |
Метод тонкого слоя для ЛА-МС-ИСП-анализа концентратов примесей |
|
Том 79, № 2 (2024) |
ОБЗОРЫ |
Развитие способов пробоподготовки и ввода проб в источники возбуждения и ионизации для комбинированных методик атомно-эмиссионного и масс-спектрального анализа |
|