Rapid determination of some cephalosporins using immobilized para-dimethylaminobenzaldehyde

封面

如何引用文章

全文:

开放存取 开放存取
受限制的访问 ##reader.subscriptionAccessGranted##
受限制的访问 订阅存取

详细

Изучено влияние химически активных фторсодержащих добавок AlF3, AgF и ZnF2 на характер испарения труднолетучих элементов, В, Be, Cr, Hf, Mo, Si, Ti и V из оксида алюминия в дуге постоянного тока. Найдено, что в присутствии этих добавок происходит значительный рост интенсивности спектральных линий и уменьшение времени полного испарения из электрода для всех исследуемых элементов, что свидетельствует об образовании в кратере электрода их легколетучих фторидов. Показано, что наиболее эффективной добавкой из исследуемых соединений является фторид цинка. Использование этой добавки позволило снизить пределы определения труднолетучих элементов в оксиде алюминия на полтора-два порядка по сравнению с вариантом без добавок, а также улучшить сходимость результатов определений.

全文:

受限制的访问

作者简介

N. Zolotareva

Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов Российской академии наук

编辑信件的主要联系方式.
Email: zol@iptm.ru
俄罗斯联邦, ул. Академика Осипьяна, 6, Черноголовка, Московская обл., 142432

S. Grazhulene

Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов Российской академии наук

Email: zol@iptm.ru
俄罗斯联邦, ул. Академика Осипьяна, 6, Черноголовка, Московская обл., 142432

参考

  1. Зверев Г.М. Лазеры на алюмоиттриевом гранате с неодимом. М.: Радио и связь, 1985. 144 с.
  2. Yagi H., Bisson J.F., Ueda K., Yanagitani T. Y3Al5O12 ceramic absorbers for the suppression of parasitic oscillation in high-power Nd: YAG lasers // J. Lumin. 2006. V. 21. P. 88.
  3. Евдокимов И.И., Пименов В.Г. Определение примесей в оптической керамике и ее прекурсорах методами атомной спектрометрии // Вестн. Нижегор. ун-та им. Н.И. Лобачевского. 2013. №4(1). С. 98.
  4. Карабаш А.Г., Пейзулаев Ш.И., Слюсарева Р.Л., Мешкова В.М. Химико-спектральный метод анализа алюминия высокой чистоты // Журн. аналит. химии. 1959. Т. 14. № 5. С. 598.
  5. Дегтярева О.Ф., Синицына Л.Г., Проскурякова А.Е. Спектральный анализ алюминия высокой чистоты // Журн. аналит. химии. 1963. Т. 88. № 4. С. 510.
  6. Морошкина T.M., Мельников Ю.А. Повышение чувствительности спектрального определения микропримесей в окиси алюминия // Заводск. лаборатория. 1969. Т. 35. № 6. С. 679.
  7. Ильченко О.П., Золотовицкая Э.С. Атомно-эмиссионное спектрографическое определение микропримесей в монокристаллических подложках для ВТСП-пленок // Высокочистые вещества. 1992. № 4. С. 132.
  8. Красильщик В.З., Воропаев Е.И. Использование метода сканируемого электрода при спектральном анализе окиси алюминия // Заводск. лаборатория. Диагностика материалов. 1980. Т. 46. № 12. С. 1105.
  9. Золотовицкая Э.С., Штительман З.В., Ильченко И.П., Бланк А.Б. Атомно-эмиссионный спектральный анализ оксида алюминия с применением дугового аргонового плазматрона // Журн. аналит. химии. 1997. Т. 52. № 11. С. 1213.
  10. Евдокимов И.И., Пименов В.Г. Атомно-эмиссионный анализ нанопорошков оксида иттрия и алюмоиттриевого граната, легированных неодимом // Заводск. лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 7. С. 3.
  11. Евдокимов И.И., Пименов В.Г. Концентрирование примесей экстракцией матрицы для АЭС-ИСП анализа оксида неодима, оксида иттрия и нанопорошка алюмоиттриевого граната, легированных неодимом / Матер. III Всерос. симп. с междунар. участием “Разделение и концентрирование в аналитической химии и радиохимии”. Краснодар. 2011. С. 111.
  12. Khvostikov V.A., Karandashev V.K., Burmii Zh.P. Analysis of α-alumina samples by mass spectrometry with inductively coupled plasma and laser ablation // Inorg. Mater. 2015. V. 51. № . 14. P. 1418.
  13. Никитина О.Н., Зильберштейн Х.И. К вопросу о повышении чувствительности прямого спектрального определения примесей в чистой окиси алюминия // Труды по химии и химической технологии. 1969. № 3. С. 79.
  14. Русанов А.К. Основы количественного анализа руд и минералов. М.: Недра, 1978. 400 с.
  15. Фришберг А.А. Повышение чувствительности определения при помощи химически активных носителей // Журн. прикл. спектроскопии.1965. Т. 3. № 2. С. 187.
  16. Карякин А.В., Штепа Е.В. Влияние катиона добавки на интенсивность спектральных линий микроэлементов в атомно-эмиссионном спектральном анализе // Журн. прикл. спектроскопии. 1991. Т. 54. № 1. С. 18. (Karyakin A.V., Shtepa L.P Influence of carrier cations on the intensity of spectral lines of microelements in atomic-emission spectral analysis // J. Appl. Spectrosc. 1991. V. 54. № 1. P. 10.)
  17. Швангирадзе Р.Р., Высокова И.Л., Мозговая Т.А., Петрова О.А. Спектральное определение микропримесей в порошковых материалах // Заводск. лаборатория. Диагностика материалов. 1972. Т. 38. № 4. С. 384.
  18. Карякин A.B., Павленко Л.И., Бабичева Г.Г. Спектральное определение микропримесей в хлориде алюминия // Журн. аналит. химии. 1971. Т. 26. № 7. С. 1344.
  19. Лейкин С.В., Орлова В.А. Определение титана, циркония, молибдена и ванадия в высокочистом оксиде алюминия α-модификации // Высокочистые вещества. 1990. № 3. С. 189.
  20. Домбровская М.А., Лисиенко Д.Г., Гильмуллина Ч.Г., Кубрина Е.Д. Совершенствование атомно-эмиссионной методики анализа графитового коллектора // Заводск. лаборатория. Диагностика материалов. 2017. Т. 83. № 1. Ч. II. С. 51.
  21. Золотарева Н.И., Гражулене С.С. Использование химически активных добавок для повышения чувствительности определения редкоземельных элементов и тория дуговым атомно-эмиссионным методом. // Заводск. лаборатория. Диагностика материалов. 2011. Т. 77. № 9. С. 11.
  22. Золотарева Н.И., Гражулене С.С. Использование химически активных добавок для определения бора в графите дуговым атомно-эмиссионным методом анализа // Журн. аналит. химии. 2021. Т. 76. № 2. С. 124. (Zolotareva N.I., Grazhulene S.S. Using chemically active additives for the arc atomic emission determination of boron in graphite // J. Anal. Chem. 2021. V. 76. № . 2. P. 183.)
  23. Верятин У.Д., Маширев В.П. Термодинамические свойства неорганичесих веществ. М.: Атомиздат, 1965. С. 54.
  24. Бурмий Ж.П., Золотарева Н.И., Хвостиков В.А., Гражулене С.С. Фотоэлектрическая регистрация эмиссионных спектров на основе приборов с зарядовой связью // Заводск. лаборатория. Диагностика материалов. 2008. Т. 74. № 6. С. 26.
  25. Зильберштейн Х.И. Спектральный анализ чистых веществ. Л.: Химия, 1971. С. 105.
  26. Гольдфарб В.М., Ильина Е.В. О зависимости интенсивности спектральных линий от состава плазмы дуги постоянного тока / Прикладная спектроскопия. М.: Наука, 1969. Т. 1. С. 172.
  27. Зайдель А.Н., Калитеевский Н.И., Липис Л.В., Чайка М.П. Эмиссионный спектральный анализ атомных материалов. М.: Физматгиз, 1960. 686 с.
  28. Экспериандова Л.П., Беликов К.Н., Химченко С.В., Бланк Т.А. Еще раз о пределах обнаружения и определения // Журн. аналит. химии. 2010. Т. 65. № 3. С. 229. (Eksperiandova L.P., Belikov K.N., Khimchenko S.V., Blank T.A. Once again about determination and detection limits // J. Anal. Chem. 2010. V. 65. № 3. P. 223.)

补充文件

附件文件
动作
1. JATS XML
下载
2. Fig. 1. Evaporation curves of Mo (a) and Si (b) from aluminum oxide without additives (1) and in the presence of additives: 2 -30 wt. % graphite powder, 3-30 wt. % graphite powder + 15 wt. % ZnF2.

下载 (99KB)
索引源数据
3. Fig. 2. Evaporation curves of Ti (a) and Hf (b) from aluminum oxide in the presence of additives: 1-15 wt. % ZnF2, 2-15 wt. % AlF3, 3-20 wt. % AgF and without additives (4).

下载 (104KB)
索引源数据
4. Fig. 3. The nature of evaporation of the aluminum base element from the crater of the arc electrode without additive (1) and in the presence of ZnF2 (2), as well as the boron impurity element (3).

下载 (65KB)
索引源数据

版权所有 © Russian Academy of Sciences, 2024