Структура и магнитные свойства многослойных наносистем на основе тонких пленок кобальта и металлов группы хрома, нанесенных магнетронным способом

Обложка

Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

В пленочных наноструктурах на основе кобальта и буферных слоев металлов группы хрома, сформированных методом магнетронного распыления, обнаружены особенности проводимости буферных слоев различной толщины и магнитооптического отклика пленок кобальта на вольфраме. Анализ данных электронной микроскопии, рентгенофазового анализа, магнитооптических измерений свидетельствует о специфике строения и свойств пленок вольфрама, сопротивление которых зависит от их толщин и определяется переносом заряда между кристаллитами. В наноструктурах на основе слоев вольфрам/кобальт отсутствует магнитная анизотропия.

Об авторах

А. В. Проказников

Национальный исследовательский центр “Курчатовский институт”

Автор, ответственный за переписку.
Email: prokaznikov@mail.ru

Ярославский филиал Физико-технологического института им. К.А. Валиева РАН

Россия, Ярославль

В. А. Папорков

Ярославский государственный университет им. П.Г. Демидова

Email: pva@uniyar.ac.ru
Россия, Ярославль

Р. В. Селюков

Национальный исследовательский центр “Курчатовский институт”

Email: prokaznikov@mail.ru

Ярославский филиал Физико-технологического института им. К.А. Валиева РАН

Россия, Ярославль

С. В. Васильев

Национальный исследовательский центр “Курчатовский институт”

Email: prokaznikov@mail.ru

Ярославский филиал Физико-технологического института им. К.А. Валиева РАН

Россия, Ярославль

О. В. Савенко

Ярославский государственный университет им. П.Г. Демидова

Email: prokaznikov@mail.ru
Россия, Ярославль

Список литературы

  1. Merlo A., Leonard G. // Materials. 2021. V. 14. № 14. P. 3823. https://doi.org/10.3390/ma14143823
  2. Селюков Р.В., Изюмов М.О., Наумов В.В. // Поверхность. Рентген., синхротр. и нейтрон. исслед. 2020. № 8. С. 26. https://doi.org/10.31857/S1028096020080142
  3. Селюков Р.В., Наумов В.В., Изюмов М.О., Васильев С.В., Мазалецкий Л.А. // Поверхность. Рентген., синхротр. и нейтрон. исслед. 2023. № 2. С. 9. https://doi.org/10.31857/S1028096023020097
  4. Аверкиев И.К., Колотов А.А., Бакиева О.Р. // Поверхность. Рентген., синхротр. и нейтрон. исслед. 2023. № 3. С. 46. https://doi.org/10.31857/S1028096023030020
  5. Vüllers F.T.N., Spolenak R. // Thin Solid Films. 2015. V. 577. P. 26. https://doi.org/10.1016/j.tsf.2015.01.030
  6. Wang S.X., Taratorin A.M. Magnetic Information Storage Technology. London: Academic Press, 1999.
  7. Rotenberg E., Freelon B.K., Koh H., Bostwick A., Rossnagel K., Schmid A., Kevan S.D. // New J. Phys. 2005. V. 7. № 1. P. 114. https://doi.org/10.1088/1367-2630/7/1/114
  8. Abdelhameed A.H., Angloher G., Bauer P., Bento A., Bertoldo E.,·Canonica L., Fuchs D., Hauff D., et al. // J. Low Temp. Phys. 2020. V. 199. P. 407. https://doi.org/10.1007/s10909-020-02357-x
  9. Blundell S. Magnetism in Condensed Matter. Oxford, NY: Oxford University Press Inc, 2001.
  10. Mattheiss L.F. // Phys. Rev. 1965. V. 139. № 6A. P. A1893. https://doi.org/10.1103/PhysRev.139.A1893
  11. Булаевский Л.Н. // УФН. 1976. Т. 120. № 2. С. 259. https://doi.org/10.3367/UFNr.0120.197610c.0259
  12. Bouziane K., Mamor M., Meyer F. // Appl. Phys. A. 2005. V. 81. № 1. P. 209. https://doi.org/10.1007/s00339-004-2558-5
  13. Enss C. Cryogenic Particle Detection. Berlin–Heidelberg–NY: Springer, 2005.
  14. Buchin E.Yu., Vaganova E.I., Naumov V.V., Paporkov V.A., Prokaznikov A.V. // Tech. Phys. Lett. 2009. V. 35. № 7. P. 589. https://doi.org/10.1134/S1063785009070025
  15. Nagakubo A., Lee H.T., Ogi H., Moruyama T., Ono T. // Appl. Phys. Lett. 2020. V. 116. P. 021901. https://doi.org/10.1063/1.5131768
  16. Poulopoulos P., Grammatikopoulos S., Trachylis D., Bissas G., Dragatsikas I., Velgakis M.J., Politis C. // J. Surf. Interfaces Mater. 2015. V. 3. № 1. P. 52. https://doi.org/10.1166/jsim.2015.1077
  17. Miller A.M., Lemon M., Choffel M.A., Rich S.R., Harvel F., Johnson D.C. // Z. Naturforsch. B. 2022. V. 77. № 4–5. P. 313. https://doi.org/10.1515/znb-2022-0020
  18. Basaviah S., Pollak S. R. // J. Appl. Phys. 1968. V. 39. № 12. P. 5548. https://doi.org/10.1063/1.1656012
  19. Morcom W.R., Worrell W.L., Sell H. G., Kaplan H. I. // Metall. Trans. 1974. V. 5. P. 155. https://doi.org/10.1007/BF02642939
  20. Frank F.C., Kasper J.S. // Acta Crystallogr. 1959. V. 12. P. 483. https://doi.org/10.1107/S0365110X59001499
  21. Lassner E., Schubert W.-D. Tungsten: Properties, Chemistry, Technology of the Element, Alloys, and Chemical Compounds. New York: Kluwer Academic/Plenum Publishers, 1999.
  22. Li W., Fenton J.C., Wang Y., McComb D. W., Warburton P.A. // J. Appl. Phys. 2008. V. 104. № 9. P. 093913. https://doi.org/10.1063/1.3013444
  23. Nix W.D., Clemens B.M. // J. Mater. Res. 1999. V. 14. № 8. P. 4367. https://doi.org/10.1557/JMR.1999.0468
  24. Гантмахер В.Ф., Левинсон И.Б. Рассеяние носителей тока в металлах и полупроводниках. М.: Наука, 1984. 350 с.
  25. Selyukov R.V., Amirov I.I., Naumov V.V. // Russ. Microelectronics. 2022. V. 51. № 6. P. 488. https://doi.org/10.1134/S1063739722700081
  26. Lita E., Rosenberg D., Nam S., Miller A.J., Balzar D., Kaatz L. M., Schwall R. E. // IEEE Trans. Appl. Supercond. 2005. V. 15. № 2. P. 3528. https://doi.org/10.1109/TASC.2005.849033
  27. Fuchs K. // Math. Proc. Cambridge Phil. Soc. 1938. V. 34. № 1. P. 100. https://doi.org/10.1017/S0305004100019952
  28. Абрикосов А.А. Основы теории металлов. М.: Наука, 1987. 520 с.
  29. Boiko V.V., Gantmacher V.F., Gasparov V.A. // Sov. Phys. JETP. 1974. V. 38. № 3. P. 604.
  30. Desai P.D., Chu T.K., James H.M., Ho C.Y. // J. Phys. Chem. Ref. Data. 1984. V. 13. № 4. P. 1094. https://doi.org/10.1063/1.555723
  31. Lee J.-S., Cho J., You C.-Y. // J. Vac. Sci. Technol. A. 2016. V. 34. № 2. P. 021502. https://doi.org/10.1116/1.4936261
  32. Mayadas A.F., Shatzkes M. // Phys. Rev. 1970. V. 1. № 4. P. 1382. https://doi.org/10.1103/PhysRevB.1.1382

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML
Скачать

© Российская академия наук, 2024